服务热线:+86 0512-68603395   Email:radsysinfo@radsys.cn

        RAD 自主开发CCD 测试系统,包括灵活可配置的硬件系统,FPGA 运行逻辑和上位机可编程软件。为相机 CCD 芯片和模组提供功能测试和性能测试。

         用户可根据用户可根据时序和信号处理复杂度选择测试系统硬件配置以适配不同类型芯片。灵活开放的特性,非常适合研发阶段对产品的进行性能分析和测试。

产品功能及特点

  • 支持可见光和红外波段 CCD 芯片和模组测试
  • 开放底层端口,可自定义底层操作逻辑,实现不同芯片通信逻辑
  • 可实时或离线对采集原始信号进行处理,模拟并验证各图像处理算法,评估各算法的指标
  • FPGA 核心处理单元,高速 ADC/DAC,采集并生成各个分析像素
  • 灵活开放的系统,满足产品研发各阶段的性能分析和功能测试验证需求